今天养殖艺技术网的小编给各位分享芯片产量测试标准要求有哪些的养殖知识,其中也会对什么是半导体封装测试(什么是半导体封装测试方法)进行专业解释,如果能碰巧解决你现在面临的问题,别忘了关注本站,现在我们开始吧!

什么是半导体封装测试

1、半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。半导体封装测试是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到**芯片的过程。
2、封装过程为:来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后,被切割为小的晶片(Die),然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板(引线框架)架的小岛上,再利用超细的金属(金、锡、铜、铝)导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘(Bond
Pad)连接到基板的相应引脚(Lead),并构成所要求的电路;然后再对**的晶片用塑料外壳加以封装保护,塑封之后,还要进行一系列操作,如后固化(Post
Mold
Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、电镀(Plating)以及打印等工艺。封装完成后进行成品测试,通常经过入检(Incoming)、测试(Test)和包装(Packing)等工序,最后入库出货。典型的封装工艺流程为:划片→
装片→
键合→
塑封→
去飞边→
电镀
→打印→
切筋→成型→
外观检查→
成品测试→
包装出货。
3、半导体器件有许多封装形式,按封装的外形、尺寸、结构分类可分为引脚插入型、表面贴装型和高级封装三类。从DIP、SOP、QFP、PGA、BGA到CSP再到SIP,技术指标一代比一代先进。总体说来,半导体封装经历了三次重大革新:第一次是在上世纪80年代从引脚插入式封装到表面贴片封装,它极大地提高了印刷电路板上的组装密度;第二次是在上世纪90年代球型矩阵封装的出现,满足了市场对高引脚的需求,改善了半导体器件的性能;芯片级封装、系统封装等是现在第三次革新的产物,其目的就是将封装面积减到最小。
4、半导体封装形式:金属封装、陶瓷封装、金属+陶瓷封装、塑料封装(最主要的封装形式)

如何测试一颗芯片

芯片测试包含
基本功能测试,芯片是什么用途,就测试功能是否实现
电气性能测试,就是各种输入输出的边界范围,延迟,频率响应特性等
安全测试, 就是Hi-pot高电压冲击测试
环境安全可靠性测试,温度湿度,冲击振动等
老化寿命测试
机械性能测试, 就是引脚
焊接性能测试具体测试方法 不能一概而论,而是参照相应的产品标准和规范,采用合理的仪器和方法,由合格上岗的实验人员实施测试。测试实验室要取得国际认证。

芯片模块组装和芯片封装测试哪个好 片测试的准备规划

  一、DIP双列直插式封装
  DIP(DualIn——line Package)是指采用双列直插形式封装的集成电路芯片,绝大多数中小规模集成电路(IC)均采用这种封装形式,其引脚数一般不超过100个。采用DIP封装的CPU芯片有两排引脚,需要插入到具有DIP结构的芯片插座上。当然,也可以直接插在有相同焊孔数和几何排列的电路板上进行焊接。DIP封装的芯片在从芯片插座上插拔时应特别小心,以免损坏引脚。
  DIP封装具有以下特点:
  1.适合在PCB(印刷电路板)上穿孔焊接,操作方便。
  2.芯片面积与封装面积之间的比值较大,故体积也较大。
  Intel系列CPU中8088就采用这种封装形式,缓存(Cache)和早期的内存芯片也是这种封装形式。
  二、PQFP塑料方型扁平式封装和PFP塑料扁平组件式封装
  PQFP(Plastic Quad Flat Package)封装的芯片引脚之间距离很小,管脚很细,一般大规模或超大型集成电路都采用这种封装形式,其引脚数一般在100个以上。用这种形式封装的芯片必须采用SMD(表面安装设备技术)将芯片与主板焊接起来。采用SMD安装的芯片不必在主板上打孔,一般在主板表面上有设计好的相应管脚的焊点。将芯片各脚对准相应的焊点,即可实现与主板的焊接。用这种方法焊上去的芯片,如果不用专用工具是很难拆卸下来的。
  PFP(Plastic Flat Package)方式封装的芯片与PQFP方式基本相同。唯一的区别是PQFP一般为正方形,而PFP既可以是正方形,也可以是长方形。
  PQFP/PFP封装具有以下特点:
  1.适用于SMD表面安装技术在PCB电路板上安装布线。
  2.适合高频使用。
  3.操作方便,可靠性高。
  4.芯片面积与封装面积之间的比值较小。
  Intel系列CPU中80286、80386和某些486主板采用这种封装形式。
  三、PGA插针网格阵列封装
  PGA(Pin Grid Array Package)芯片封装形式在芯片的内外有多个方阵形的插针,每个方阵形插针沿芯片的四周间隔一定距离排列。根据引脚数目的多少,可以围成2-5圈。安装时,将芯片插入专门的PGA插座。为使CPU能够更方便地安装和拆卸,从486芯片开始,出现一种名为ZIF的CPU插座,专门用来满足PGA封装的CPU在安装和拆卸上的要求。
  ZIF(Zero Insertion Force Socket)是指零插拔力的插座。把这种插座上的扳手轻轻抬起,CPU就可很容易、轻松地插入插座中。然后将扳手压回原处,利用插座本身的特殊结构生成的挤压力,将CPU的引脚与插座牢牢地接触,绝对不存在接触**的问题。而拆卸CPU芯片只需将插座的扳手轻轻抬起,则压力解除,CPU芯片即可轻松取出。
  PGA封装具有以下特点:
  1.插拔操作更方便,可靠性高。
  2.可适应更高的频率。
  Intel系列CPU中,80486和Pentium、Pentium Pro均采用这种封装形式。
  四、BGA球栅阵列封装
  随着集成电路技术的发展,对集成电路的封装要求更加严格。这是因为封装技术关系到产品的功能性,当IC的频率超过100MHz时,传统封装方式可能会产生所谓的“CrossTalk”现象,而且当IC的管脚数大于208 Pin时,传统的封装方式有其困难度。因此,除使用QFP封装方式外,现今大多数的高脚数芯片(如图形芯片与芯片组等)皆转而使用BGA(Ball Grid Array Package)封装技术。BGA一出现便成为CPU、主板上南/北桥芯片等高密度、高性能、多引脚封装的最佳选择。
  BGA封装技术又可详分为五大类:
  1.PBGA(Plasric BGA)基板:一般为2-4层有机材料构成的多层板。Intel系列CPU中,Pentium II、III、IV处理器均采用这种封装形式。
  2.CBGA(CeramicBGA)基板:即陶瓷基板,芯片与基板间的电气连接通常采用倒装芯片(FlipChip,简称FC)的安装方式。Intel系列CPU中,Pentium I、II、Pentium Pro处理器均采用过这种封装形式。
  3.FCBGA(FilpChipBGA)基板:硬质多层基板。
  4.TBGA(TapeBGA)基板:基板为带状软质的1-2层PCB电路板。
  5.CDPBGA(Carity Down PBGA)基板:指封装**有方型低陷的芯片区(又称空腔区)。
  BGA封装具有以下特点:
  1.I/O引脚数虽然增多,但引脚之间的距离远大于QFP封装方式,提高了成品率。
  2.虽然BGA的功耗增加,但由于采用的是可控塌陷芯片法焊接,从而可以改善电热性能。
  3.信号传输延迟小,适应频率大大提高。
  4.组装可用共面焊接,可靠性大大提高。
  BGA封装方式经过十多年的发展已经进入实用化阶段。1987年,***西铁城(Citizen)公司开始着手研制塑封球栅面阵列封装的芯片(即BGA)。而后,摩托罗拉、康柏等公司也随即加入到开发BGA的行列。1993年,摩托罗拉率先将BGA应用于移动电话。同年,康柏公司也在工作站、PC电脑上加以应用。直到五六年前,Intel公司在电脑CPU中(即奔腾II、奔腾III、奔腾IV等),以及芯片组(如i850)中开始使用BGA,这对BGA应用领域扩展发挥了推波助澜的作用。目前,BGA已成为极其热门的IC封装技术,其全球市场规模在2000年为12亿块,预计2005年市场需求将比2000年有70%以上幅度的增长。
  五、CSP芯片尺寸封装
  随着全球电子产品个性化、轻巧化的需求蔚为风潮,封装技术已进步到CSP(Chip Size Package)。它减小了芯片封装外形的尺寸,做到*芯片尺寸有多大,封装尺寸就有多大。即封装后的IC尺寸边长不大于芯片的1.2倍,IC面积只比晶粒(Die)大不超过1.4倍。
  CSP封装又可分为四类:
  1.Lead Frame Type(传统导线架形式),代表厂商有富士通、日立、Rohm、高士达(Goldstar)等等。
  2.Rigid Interposer Type(硬质内插板型),代表厂商有摩托罗拉、索尼、东芝、松下等等。
  3.Flexible Interposer Type(软质内插板型),其中最有名的是Tessera公司的microBGA,CTS的sim-BGA也采用相同的原理。其他代表厂商包括通用电气(GE)和NEC。
  4.Wafer Level Package(晶圆尺寸封装):有别于传统的单一芯片封装方式,WLCSP是将整片晶圆切割为一颗颗的单一芯片,它号称是封装技术的未来主流,已投入研发的厂商包括FCT、Aptos、卡西欧、EPIC、富士通、三菱电子等。
  CSP封装具有以下特点:
  1.满足了芯片I/O引脚不断增加的需要。
  2.芯片面积与封装面积之间的比值很小。
  3.极大地缩短延迟时间。
  CSP封装适用于脚数少的IC,如内存条和便携电子产品。未来则将大量应用在信息家电(IA)、数字电视(DTV)、电子书(E-Book)、无线网络WLAN/GigabitEthemet、ADSL/手机芯片、蓝芽(Bluetooth)等新兴产品中。
  六、MCM多芯片模块
  为解决单一芯片集成度低和功能不够完善的问题,把多个高集成度、高性能、高可靠性的芯片,在高密度多层互联基板上用SMD技术组成多种多样的电子模块系统,从而出现MCM(Multi Chip Model)多芯片模块系统。
  MCM具有以下特点:
  1.封装延迟时间缩小,易于实现模块高速化。
  2.缩小整机/模块的封装尺寸和重量。
  3.系统可靠性大大提高。

如何辨别IC的真伪

什么是半导体封装测试

集成电路的市场经过这么多年的发展,在研发或学习过程中,应用的时候不免经常需要订购一些芯片来满足的自己的需要。但是有些具体的问题还是存在的一,代理的质量虽然好,但是数量太少一般不愿意搭理你,除非有现货并且你上门自取,如果订期货则不一定能达到最小起订量,而且交货期可能长得你无法接受,申请样片同样不是件容易的事,除非你自己在品牌的网站申请。有关品牌信息可以**金典科技网站.或直接到电子市场卖货,市场上的货鱼目混杂,就要学会辨别IC的真伪!
旧片拆机有两法:1、热风法,此法是正规的做法,用于较干净、整齐的板特别是较有价值的SMD板。2、油炸法,这确实是真的,用调制的高沸点矿物油来炸,极旧或很乱的垃圾板通常用此法。
在此要跟大家讲明白:旧片分离和重制过程中产生的废料若不妥善处理会严重污染环境(含大量难降解的有毒化合物和重金属),而妥善处理的费用又会高于全部回收所得,所以发达国家的某些公司宁愿花钱并出运费将电子垃圾送给中国和南亚的一些国家也不愿自行处理,这里面是有说道的。新旧芯片间的差价远远无法挽回环境污染的损失,这一点大家一定要心里有数!
芯片销售的正规代理一般在写字楼办公,华强、赛格等电子市场中也有很多经销新货的,多数在大厅周围的**房间中,也有少数柜台,大家购买芯片时应注意识别。
区别原装正货和翻新货的主要方法是:
1、看芯片表面是否有打磨过的痕迹。凡打磨过的芯片表面会有细纹甚至以前印字的微痕,有的为掩盖还在芯片表面涂有一层薄涂料,看起来有点发亮,无塑胶的质感。
2、看印字。现在的芯片绝大多数采用激光打标或用专用芯片印刷机印字,字迹清晰,既不显眼,又不模糊且很难擦除。翻新的芯片要么字迹边沿受清洗剂腐蚀而有锯齿感,要么印字模糊、深浅不一、位置不正、容易擦除或过于显眼。另外,丝印工艺现在的IC大厂早已淘汰,但很多芯片翻新因成本原因仍用丝印工艺,这也是判断依据之一,丝印的字会略微高于芯片表面,用手摸可以感觉到细微的不平或有发涩的感觉。
3、看引脚。凡光亮如新的镀锡引脚必为翻新货,正货IC的引脚绝大多数应是所谓银粉脚,色泽较暗但成色均匀,表面不应有**痕迹或助焊剂,另外DIP等插件的引脚不应有擦花的痕迹,即使有(再次包装才会有)擦痕也应是整齐、同方向的且金属暴露处光洁无**。
5、测器件厚度和看器件边沿。不少原激光印字的打磨翻新片(功率器件居多)因要去除原标记,必须打磨较深,如此器件的整体厚度会明显小于正常尺寸,但不对比或用卡尺测量,一般经验不足的人还是很难分辨的,但有一变通识破法,即看器件正面边沿。因塑封器件注塑成型后须脱模,故器件边沿角呈圆形(R角),但尺寸不大,打磨加工时很容易将此圆角磨成直角,故器件正面边沿一旦是直角的,可以判断为打磨货。
除此之外,再有一法就是看商家是否有大量的原外包装物,包括标识内外一致的纸盒、防静电塑胶袋等,实际辨别中应多法齐用,有一处存在问题则可认定器件的货质。

SNP检测准确率高的方法有哪几种?

现在SNP的常用检测方法主要有:Taqman法、质谱法、芯片法、测序法。Taqman法:准确性高,适合于大样本、少位点,价格比较贵;质谱法:准确性高,适合于大样本、多位点(能检测25个位点);芯片法:准确性较低,适合于超多位点分析;测序法:非常准确,但是价格也非常的高,但是对于少样本、超多位点还是非常好的选择。

SNP检测方法汇总

分析SNP的方法有许多种,本文收集目前还在用的方法,按通量从高到低排列:

全基因组测序

这是最贵的方法,但也是看SNP最全的方法

大概一个人样本,花2万元

外显子组测序

外显子组测序,也可以得到较全面的SNP信息

大概一个人样本,花1.5万元

随着人全基因组测序的价格降到2万元左右,外显子组测序会很快退出市场

全基因组SNP芯片

原理,核酸杂交,荧光扫描

用于测试交流电源参数的芯片有哪些?

这个芯片就是常用MCU带2路的AD就够了!

工业级wifi芯片和商业级的wifi芯片差别有哪些

射频部份不会有什么差别,主要差别是工作温度范围、抗EMI干扰(非RF部份)、耐受机械冲击等
工业级芯片不是从产品线上筛选出来的,首先制造工业就不同,所谓的“筛选”只是参数控制,是品质控制的一项内容,工业级芯片在电参数上和普通商用级完全相同,有时,芯片厂会给大客户提供指定参数分布区域的产品,但这和是否工业级无关。
自己做WIFI模块而不进行详细参数测试并进行相应的品质控制的话,你的产品会存在很大离散性,至于这种离散性是否影响应用则要看应用的要求

请教下作为一个IC测试工程师,需要有些什么技能准备

IC测试的话,数字和模拟还是很大区别的。
数字IC的话,c++(或其他如labview等等)用来编写测试界面,matlab或者c语言用来产生测试数据,单片机或者arm板用来连接PC和测试板(也可以用FPGA做连接板),对了PCB也要会画,至少应该画下简单的芯片应用电路,所以软硬件都要会,但是跟设计人员不同的是,要求每那么高。
模拟IC测试的话,要会画PCB,然后电源,示波器,电压表,电流表,逻辑分析仪等等要会用。数字IC有时也要用的这些。还有那些数模混合的也是,不光要用到数字工具,模拟工具也要会。
呵呵,需要学的东西还是很多的,基本上IC设计人员都要走一下测试的,要不然闷头只是设计,可能设计不出能用的东西,你学好后转到设计会很容易的。

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